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產品名稱:PDP 真空紫外螢光光譜測試系統

測量PDP螢光粉的發光餘輝波形曲線、有效餘輝時間,以及螢光粉在VUV輻照下的光衰特性。

概述:

測量PDP螢光粉在147.0nm、172nm真空紫外輻照激發下的發光光譜功率分佈、譜線帶寬、峰值波長、發光亮度、色品坐標、顏色純度和主波長等參數;測量PDP螢光粉的發光餘輝波形曲線、有效餘輝時間,以及螢光粉在VUV輻照下的光衰特性。

 

技術規格:

  • 採用專利技術,快速、簡便地測試PDP螢光粉的亮度、色度、餘輝等全部光學參數;
  • 可分別測量147nm和172nm單一譜線激發下的發光性能分析PDP的放電與螢光粉匹配參數;
  • 激發光源:模擬PDP像元發光特性的真空紫外放電管;
  • 光譜範圍:350nm~800nm(或200nm~800nm);
  • 餘輝時間:0.1ms~1s;
  • 餘輝分辨率:0.1ms(可擴展至1μs)。
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